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J-GLOBAL ID：201502214055491142   整理番号：15A0740296

MBE法によるZnTeのELO

著者 (11件)： 橋本勇輝 (早稲田大) ,  中須大蔵 (早稲田大) ,  服部翔太 (早稲田大) ,  山下聡太郎 (早稲田大) ,  相場貴之 (早稲田大) ,  木津健 (早稲田大) ,  SUN Wei-Che (早稲田大) ,  田栗光祐 (早稲田大) ,  風見蕗乃 (早稲田大) ,  小林正和 (早稲田大) ,  朝日聡明 (JX日鉱日石金属)
資料名： 電気学会全国大会講演論文集(CD-ROM)  (Annual Meeting Record, I.E.E. Japan (CD-ROM))
巻： 2015  ページ： ROMBUNNO.2-103  発行年： 2015年03月05日 
JST資料番号： S0653B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： サファイア ,  *テルル化亜鉛 ,  フォトリソグラフィー ,  エピタクシー ,  *MBE成長 ,  走査電子顕微鏡 ,  サファイア基板 ,  *横方向成長 ,  鉱石 ,  宝石
準シソーラス用語： SEM【顕微鏡】 ,  *ZnTe

分類 (1件)： 金属薄膜  (BK14030T)

タイトルに関連する用語 (2件)： MBE ,  ZnTe