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J-GLOBAL ID：201502283410829720   整理番号：15A0108049

マルチ量子ビーム超高圧電子顕微鏡による先進材料システム開発

著者 (2件)： 渡辺精一 (北大 大学院) ,  柴山環樹 (北大 大学院)
資料名： 日本中性子科学会年会講演概要集
巻： 14th  ページ： 30  発行年： 2014年 
JST資料番号： L4563A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *高圧電子顕微鏡 ,  電子顕微鏡観察 ,  電子ビーム ,  イオンビーム ,  レーザビーム ,  その場観察 ,  微視力学 ,  ナノ構造 ,  材料 ,  パルスレーザ照射 ,  ナノ力学 ,  新素材
準シソーラス用語： ナノメカニクス ,  先進材料 ,  *超高圧電子顕微鏡

分類 (1件)： その他の物理実験技術  (BA02080Z)

タイトルに関連する用語 (5件)： マルチ ,  量子ビーム ,  超高圧電子顕微鏡 ,  先進材料 ,  開発