特許
J-GLOBAL ID:201603013586727155
光電変換デバイスにおける変換効率の周波数特性校正システム
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
廣瀬 隆行
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2015-009033
公開番号(公開出願番号):特開2015-111135
特許番号:特許第5904566号
出願日: 2015年01月21日
公開日(公表日): 2015年06月18日
請求項(抜粋):
【請求項1】 光電変換デバイス(PD)における変換効率の周波数特性校正システムであって,
光源(11)と,
前記光源(11)からの出力光が入射し,光源(11)から入射した光と変調信号とに応じた2トーン光を発生させて,前記2トーン光を被校正PDへと出力する光変調器(12)と,
前記光変調器(12)から2トーン光が入射し,前記2トーン光の全光パワー(Popt)を測定する光パワーメータと,
前記被校正PDからの出力が入力され,前記被校正PDからの出力のRFパワー(PRF)を測定するRFパワーメータと,
前記光パワーメータ及び前記RFパワーメータに接続されており,前記全光パワー(Popt)と前記RFパワー(PRF)とに基づいて,前記被校正PDの変換効率(κ)を求める演算装置と,を含み,
前記光変調器(12)が,マッハツェンダー導波路(14)を有する光変調器であり,
前記光変調器(12)から出力される2トーン光は,光源(11)から入射した光の周波数をf0とし,変調信号の周波数をfmとした場合,f0±nfm(nは1以上の整数)であり,
前記光変調器(12)は,前記光変調器(12)から出力されるf0成分の強度がf0+nfm成分の強度に対して20dB以上抑圧されるように駆動されるものであり,
前記演算装置は,下記式(6)により前記変換効率(κ)を求める
校正システム。
IPC (2件):
G01M 11/00 ( 200 6.01)
, G02F 1/035 ( 200 6.01)
FI (2件):
G01M 11/00 T
, G02F 1/035
引用特許:
引用文献:
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