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J-GLOBAL ID：201902283904778830   整理番号：19A1369727

原子間力顕微鏡を用いたナノ粒子に働く光圧測定の理論解析

著者 (4件)： 山根秀勝 (大阪府大 工) ,  余越伸彦 (大阪府大 工) ,  石原一 (大阪府大 工) ,  石原一 (大阪大 基礎工)
資料名： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 66th  ページ： ROMBUNNO.9p-M116-9  発行年： 2019年02月25日 
JST資料番号： Y0054B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： 近年、原子間力顕微鏡(Atomic Force Microscopy, AFM)を用いた、ナノ粒子に働く光圧の実験的測定が報告された[1,2]。光圧を高感度、高分解能に測定することは、ナノメートルスケールの光学イメージン...【本文一部表示】

シソーラス用語： *原子間力顕微鏡 ,  *ナノ粒子 ,  *光圧 ,  プラズモン ,  間隙 ,  局在プラズモン
準シソーラス用語： AFMプローブ ,  ナノギャップ

分類 (1件)： 光学一般  (BD03010Q)

タイトルに関連する用語 (4件)： 原子間力顕微鏡 ,  ナノ粒子 ,  光圧 ,  理論解析