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J-GLOBAL ID：202102212630871131   整理番号：21A0653387

原子スケール直接観察による細孔内カチオン構造解析

著者 (6件)： 吉田要 (JFCC) ,  酒井求 (早稲田大) ,  倉田博基 (京大) ,  中平敦 (大府大) ,  松方正彦 (早稲田大) ,  佐々木優吉 (JFCC)
資料名： ゼオライト研究発表会講演予稿集
巻： 36th  ページ： 42-43  発行年： 2020年11月19日 
JST資料番号： L1365A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： 1.緒言.電子顕微鏡法は材料科学において必要不可欠な手法となっており、ゼオライト構造解析においても多くの成果をこれまでにあげている.しかしゼオライトは電子線に対する耐性が低いことから解析レベルが大きく制限を受け,従来の高分解能電子顕微鏡(H...【本文一部表示】

シソーラス用語： *合成ゼオライト ,  *細孔 ,  *カチオン ,  *構造解析 ,  電子顕微鏡 ,  収差補正 ,  球面収差 ,  透過型電子顕微鏡 ,  透過型走査電子顕微鏡 ,  *電子顕微鏡観察 ,  電子照射 ,  照射線量 ,  依存性 ,  *イオン交換 ,  *セシウム化合物 ,  HRTEM ,  *NaAゼオライト ,  *セシウムイオン ,  球面収差補正 ,  照射線量依存性
準シソーラス用語： 照射量依存性

分類 (2件)： 合成鉱物  (CD01040K) ,  顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (5件)： 原子スケール ,  直接観察 ,  細孔 ,  カチオン ,  構造解析