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J-GLOBAL ID:202202286368548612   整理番号:22A0048583

非線形スペクトル変化によるシリコン導波路デバイス構造のモデリングの一検討

Structure modeling of silicon waveguide devices using nonlinear spectral broadening
著者 (4件):
資料名:
巻: 121  号: 237(PN2021 26-31)  ページ: 13-16 (WEB ONLY)  発行年: 2021年11月04日 
JST資料番号: U2030A  ISSN: 2432-6380  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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シリコン導波路デバイスをはじめマルチコアファイバに至るまで様々な光デバイスの評価には内部構造のモデリングが重要と考えられる.内部構造のモデリングを行うためには,伝搬軸に沿った構造や材料の評価を行う手段が必要となる.これまでに我々は材料の評価手法として,光パルスの伝播とともに発生する非線形光学効果を利用した検査方法を提案している.本研究では,提案されている材料の検査方法を構造評価へと応用した.テーパードした導波路の有効断面積の分布計測を行い,構造の変化を推定できることを確認した.(著者抄録)
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分類 (1件):
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光導波路,光ファイバ,繊維光学 
引用文献 (21件):

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