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J-GLOBAL ID：202302244920889027   整理番号：23A0206718

時間分解2光子光電子分光法を用いた表面再結合寿命の直接評価

Direct characterization of carrier recombination lifetime at the semiconductor surface by using time-resolved two-photon photoemission spectroscopy

著者 (4件)： 市川修平 (大阪大 大学院) ,  市川修平 (阪大 電顕セ) ,  毎田修 (大阪大 大学院) ,  小島一信 (大阪大 大学院)
資料名： 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))
巻： 83rd  ページ： ROMBUNNO.22p-B102-7  発行年： 2022年08月26日 
JST資料番号： Y0055B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

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シソーラス用語： キャリア寿命 ,...
準シソーラス用語： 遅延時間

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分類 (2件)： 蛋白質・ペプチド一般  (EB03010N) ,  分析機器  (CC02020S)

タイトルに関連する用語 (6件)： 分解 ,  2光子 ,  光電子分光法 ,  表面再結合 ,  寿命 ,  評価