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J-GLOBAL ID：200902241340128140   整理番号：08A1194879

赤外・テラヘルツ高精度反射スペクトルの温度依存性測定の自動化

著者 (1件)： 木村真一 (分子科研)
資料名： Jasco Report  (Jasco Report)
巻： 50  号： 1  ページ： 6-10  発行年： 2008年09月25日 
JST資料番号： L1132A  ISSN： 0916-3492  CODEN： JREPEH  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 赤外およびテラヘルツ領域の近垂直入射反射スペクトルは固体表面の電子構造や格子振動に関する重要な情報をもたらす。絶対反射率を高精度で測定する温度依存反射スペクトルを得るための自動化装置を設計,構築した。この装置を用いてYbIr₂Si₂の本質的な反射スペクトルを,表面粗さや波状形態などの外因的影響を受けずに測定できた。装置の設計概念と得られた性能も報告した。

シソーラス用語： 固体 ,  表面 ,  電子構造 ,  格子振動 ,  *赤外スペクトル ,  *遠赤外スペクトル ,  *反射スペクトル ,  入射角 ,  垂直 ,  *スペクトロメータ ,  自動化 ,  *ケイ化物 ,  *イリジウム化合物 ,  *イッテルビウム化合物 ,  表面粗さ ,  表面構造
準シソーラス用語： *けい化イリジウムイッテルビウム

分類 (4件)： 物理化学一般その他  (CB01030T) ,  赤外・遠赤外領域の分光法と分光計  (BD07042H) ,  赤外スペクトル及びRaman散乱,Ramanスペクトル一般  (BM08061U) ,  表面の電子構造  (BM02080J)

引用文献 (4件)：

• 例えば、上田和夫、大貫惇睦、「重い電子系の物理」、 (裳華房, 1998).
• M. Dressel and G. Grüer, Electrodynamics of Solids (Cambridge Univ. Press, Cambridge, 2002).
• P. Drude, Annalen der Physik 1, 566(1900); ibid 3, 369(1900).
• S. Kimura, E. Nakamura, T. Nishi, Y. Sakurai, K. Hayashi, J. Yamazaki, and M. Katoh, Infrared Phys. Tech.49, 147(2006).

タイトルに関連する用語 (5件)： 赤外 ,  テラヘルツ ,  反射スペクトル ,  温度依存性 ,  自動化