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J-GLOBAL ID：201202219286703452   整理番号：12A0557201

陽電子寿命によるアパタイト中の格子欠陥評価

著者 (6件)： 芹澤愛 (大阪大 工) ,  山本侑志 (大阪大 大学院) ,  水野正隆 (大阪大 工) ,  荒木秀樹 (大阪大 工) ,  中野貴由 (大阪大 工) ,  白井泰治 (京大 工)
資料名： 日本金属学会講演概要(CD-ROM)  (Collected Abstracts of Spring Meeting of the Japan Institute Metals and Materials (CD-ROM))
巻： 150th  ページ： ROMBUNNO.142  発行年： 2012年03月15日 
JST資料番号： S0988B  ISSN： 2433-3093  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *陽電子消滅 ,...
準シソーラス用語： 陽電子寿命

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分類 (2件)： 医用素材  (GA05040H) ,  その他の無機化合物の格子欠陥  (BK12050B)

タイトルに関連する用語 (4件)： 陽電子寿命 ,  アパタイト ,  格子欠陥 ,  評価