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J-GLOBAL ID：201402242293450884   整理番号：14A1013039

非接触j_c測定法によるクラックの検出可能性の数値解析

Numerical Investigations on Detectability of Crack by Contactless j_C-Measurement Method

著者 (3件)： TAKAYAMA Teruou (Yamagata Univ.) ,  KAMITANI Atsushi (Yamagata Univ.) ,  NAKAMURA Hiroaki (National Inst. for Fusion Sci.)
資料名： Plasma and Fusion Research (Web)  (Plasma and Fusion Research (Web))
巻： 8  ページ： 2401025-2401025 (J-STAGE)  発行年： 2013年 
JST資料番号： U0045A  ISSN： 1880-6821  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高温超伝導(HTS)薄膜中の臨界電流密度j_cを測定し,クラックを検出する誘導法を数値解析した。この目的のため,クラックを有する薄膜中の遮蔽電流密度を解析する数値コードを開発した。計算結果によれば,誘導法の精度はクラックにより著しく低下する。特に,コイルの垂直投影がクラックと重なると,想定されるj_cの値が減少することが判明した。これは主として遮蔽電流密度の空間分布が非対象になるためである。結論として,HTS薄膜中のj_c分布を測定することにより,クラックのサイズと位置を精密に測定可能である。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： 臨界電流密度 ,  *高温超伝導体 ,  シミュレーション ,  *検出 ,  亀裂 ,  非接触測定 ,  *損傷検出
準シソーラス用語： クラック ,  *クラック検出 ,  数値シミュレーション ,  *誘導法

分類 (1件)： 超伝導磁石  (BM04042N)

タイトルに関連する用語 (4件)： 非接触 ,  測定法 ,  クラック ,  数値解析