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J-GLOBAL ID：201402289412660333   整理番号：14A0166719

高温超伝導薄膜中のj_c測定の無接点測定法精度と分解能の数値解析 誘導法と永久磁石法

Numerical Investigation on Accuracy and Resolution of Contactless Methods for Measuring j_C in High-Temperature Superconducting Film: Inductive Method and Permanent Magnet Method

著者 (4件)： TAKAYAMA Teruou (Yamagata Univ.) ,  KAMITANI Atsushi (Yamagata Univ.) ,  SAITOH Ayumu (Graduate School of Engineering, Univ. of Hyogo) ,  NAKAMURA Hiroaki (National Inst. for Fusion Sci.)
資料名： Plasma and Fusion Research (Web)  (Plasma and Fusion Research (Web))
巻： 7  ページ： 2405017-2405017 (J-STAGE)  発行年： 2012年 
JST資料番号： U0045A  ISSN： 1880-6821  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高温超伝導(HTS)薄膜中の臨界電流密度を測定する,2種の無接点法の精度と分解能を数値解析した。最終的には,クラックを有する薄膜中の遮蔽電流密度を解析する数値コードを開発した。計算結果によれば,2種の無接点法の精度はクラックにより著しく低下する。特に永久磁石法では,磁石がクラックに近づくと薄膜に働く最高反発力は減少する。クラックサイズが小さくても,最高反発力は減少する。これは,クラックを検出できることを意味する。誘導法では,クラックにより閾値電流は減少するが,クラックが小さい場合は必ずしもその値は低下しない。コイルの内径に薄膜のクラックが含まれる場合は,精度は低下しない。このため,クラックを検出するには内径を極力小さくすることが望ましい。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *高温超伝導体 ,  *臨界電流密度 ,  数値解析 ,  計算機シミュレーション ,  亀裂 ,  検出 ,  電磁誘導 ,  永久磁石 ,  損傷検出
準シソーラス用語： クラック ,  クラック検出 ,  高温超伝導薄膜 ,  無接点測定

分類 (2件)： 核融合装置  (BJ02083Z) ,  超伝導体の物性一般  (BM04021A)

タイトルに関連する用語 (6件)： 超伝導薄膜 ,  測定法 ,  分解能 ,  数値解析 ,  誘導 ,  永久磁石