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J-GLOBAL ID:201502272150590875   整理番号:15A0745011

多層・多重連結構造を有するHTS薄膜中の遮蔽電流密度を評価する数値手法

Numerical Method for Analyzing Shielding Current Density in HTS Film with Multiple-Layer/Multiply-Connected Structure
著者 (4件):
資料名:
巻:ページ: 2405078-2405078 (J-STAGE)  発行年: 2013年 
JST資料番号: U0045A  ISSN: 1880-6821  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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核融合装置用磁場コイルを初めとし,高温超電導体(HTS)の応用が進んでいる。クラックや開口を含むHTS薄膜中の遮蔽電流密度jを記述する方程式を導く。薄膜表面における垂直方向電流は無いとする境界条件のみではこの方程式は解けないため,新たな負荷条件を導入する。方程式を初期値・境界値問題として解くための数値解法を提示する。永久磁石法の数値シミュレーションにより,この手法を評価する。具体的には,現象を記述する方程式として多重薄膜近似,電流ベクトルポテンシャル,および仮想電圧法,数値実験にわたって述べる。(翻訳著者抄録)
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分類 (2件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
核融合装置  ,  超伝導磁石 

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