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J-GLOBAL ID：202002267513636088   整理番号：20A2055201

タングステン電極の消耗予測に向けた電極近傍における発光メカニズムの解明

Investigation of light emitting mechanism near electrode for prediction of tungsten electrode consumption

著者 (3件)： 田中慶吾 (大阪大 接合科研) ,  茂田正哉 (大阪大 接合科研) ,  田中学 (大阪大 接合科研)
資料名： 材料とプロセス(CD-ROM)  (Current Advances in Materials and Processes (CD-ROM))
巻： 33  号： 2  ページ： ROMBUNNO.87  発行年： 2020年09月01日 
JST資料番号： X0994B  ISSN： 1882-8922  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ・ティグ溶接で,タングステン電極由来の添加物蒸気がアークプラズマ等に対する影響に関し,イメージ分光分析により添加物蒸気の空間分布を計測し,発光メカニズムを考察。
・陰極にW-2wt%Ce₂O₃及びピュアWの電極,陽極に水冷銅板を用い,Heガスを流して静止ティグ溶接を実施。
・イメージ分光分析はセリウム原子,セリウムイオンを対象に,スペクトル画像を撮影。
・実験でW-2wt%Ce₂O₃電極の場合,添加物のセリウム蒸気由来の黄色の発光を確認,更にイメージ分光でセリウム原子の強いスペクトル強度を確認。

シソーラス用語： *TIG溶接 ,  *電極 ,  タングステン ,  酸化セリウム ,  *発光 ,  蒸気 ,  銅 ,  金属イオン ,  スペクトロスコピー ,  スペクトル画像 ,  スペクトル線強度 ,  消耗 ,  原子 ,  プラズマ ,  アーク放電 ,  画像分析
準シソーラス用語： アークプラズマ ,  イメージング分光計測法 ,  イメージング分光法 ,  セリウムイオン ,  タングステン電極 ,  ティグ溶接 ,  電極消耗

分類 (1件)： 溶接材料  (WC07120E)

引用文献 (2件)：

• K. Konishi et al.: Quarterly Journal of the Japan Welding Society, Vol. 35, No. 2 (2017) 73-84 (in Japanese).
• K. Tanaka et al.: Proceedings of Annual Assembly 2019 of International Institute of Welding (IIW), Study Group 212 “Physics of Welding”, (2019), Doc. 212-1624-19.

タイトルに関連する用語 (5件)： タングステン電極 ,  消耗 ,  予測 ,  近傍 ,  メカニズム