Art

J-GLOBAL ID：200902000026195685   Reference number：87A0129080

Robust test generation algorithm for stuck-open fault in CMOS circuits.

CMOS回路における開路固定故障に対するロバスト検査生成アルゴリズム

Author (2)： MAO W (Fudan Univ., Shanghai, CHN) ,  LING X (Fudan Univ., Shanghai, CHN)
Material： Proceedings of the Design Automation Conference  (Proc Des Autom Conf)
Volume： 23rd  Page： 236-242  Publication year： 1986 
JST Material Number： D0553A  ISSN： 0738-100X  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： CMOS structure ,...

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JST classification (1)： Measurement,testing and reliability of solid-state devices  (NC03040G)

Terms in the title (6)： CMOS回路 ,  開路 ,  故障 ,  ロバスト ,  検査 ,  アルゴリズム