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J-GLOBAL ID：200902131007484398   Reference number：97A1020341

LSI Defect Image Recognition using Higher-Order Neural Networks of a Quadratic Constraint.

2次制限型高次ニューラルネットワークによるLSI欠陥像認識機構の構築

Author (6)： OKAHASHI TATSUO (日立マイコン) ,  KOSUGI YUKIO (東京工大 大学院 総合理工学研究科) ,  IZUMITA MORISHI (日立マイコン) ,  KAMEYAMA KEISUKE (東京工大 大学院 総合理工学研究科) ,  OZAKI KATSUMI (日立マイコン) ,  HASHIMOTO NAOHISA (東京工大 大学院 総合理工学研究科)
Material： 日立マイコン技報  (Hitachi Maikon Technical Journal)
Volume： 11  Issue： 1  Page： 16-22  Publication year： Oct. 1997 
JST Material Number： L0733A  ISSN： 0914-1413  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *LSI ,...
Semi thesaurus term： *neural network model

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JST classification (3)： Measurement,testing and reliability of solid-state devices  (NC03040G) ,  Pattern recognition  (JE07000S) ,  Artificial intelligence  (JE08000Z)

Terms in the title (5)： 制限 ,  ニューラルネットワーク ,  LSI ,  欠陥 ,  構築