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J-GLOBAL ID：200902131053914542   Reference number：01A0743295

Topographic cross talk in reflection mode near-field optical microscopy on patterned structures.

反射モード近接場光学顕微鏡法におけるパターン構造のトポグラフィック漏話

Author (8)： ROSENBERGER A (RWTH-Aachen, Aachen, DEU) ,  MUENNEMANN A (RWTH-Aachen, Aachen, DEU) ,  KIENDL F (RWTH-Aachen, Aachen, DEU) ,  GUENTHERODT G (RWTH-Aachen, Aachen, DEU) ,  ROSENBUSCH P (Univ. Cambridge, Cambridge, GBR) ,  BLAND J A C (Univ. Cambridge, Cambridge, GBR) ,  EGGERS G (Freien Univ. Berlin, Berlin, DEU) ,  FUMAGALLI P (Freien Univ. Berlin, Berlin, DEU)
Material： Journal of Applied Physics  (Journal of General Physics and its Application to Other Sciences and to Industry)
Volume： 89  Issue： 12  Page： 7727-7729  Publication year： Jun. 15, 2001 
JST Material Number： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *optical microscopy ,...
Semi thesaurus term： 走査型近接場光学顕微鏡

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JST classification (1)： Optical instruments and techniques in general  (BD07010S)

Terms in the title (2)： 近接場光学顕微鏡 ,  漏話