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J-GLOBAL ID：200902165133230905   Reference number：00A0040210

Characterization of a Multiplexed Compton Scatter Tomograph for Non-Destructive Inspection of Thin, Low-Z Samples.

薄くて低Zの試料の非破壊検査用の多重Compton散乱トモグラフの特性評価

Author (3)： EVANS B L (Air Force Inst. Technol., OH) ,  MARTIN J B (Air Force Inst. Technol., OH) ,  BURGGRAF L W (Air Force Inst. Technol., OH)
Material： Conference Record. 1998 IEEE Nuclear Science Symposium, Vol.2  (Conf Rec 1998 IEEE Nucl Sci Symp Vol 2)
Page： 1000-1005  Publication year： 1999 
JST Material Number： K19990444  ISBN： 0-7803-5022-7  Document type： Proceedings
Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Terms in the title (5)： 試料 ,  非破壊検査 ,  多重 ,  Compton散乱 ,  特性評価