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J-GLOBAL ID：201702246212368305   Reference number：17A0179032

High temperature cell for in-situ fluorescence XAFS and characterization of Pt-SnO₂ thin film catalyst for gas sensor

In-situ蛍光XAFSを可能にする高温セルとガスセンサに用いるPt-SnO₂薄膜触媒のその場観察

Author (9)： MURATA NAOYOSHI (富士電機) ,  WADA TAKAHIRO (東京医歯大 大学院医歯学総合研究科) ,  WADA TAKAHIRO (北大 触媒科研) ,  SUZUKI TAKUYA (富士電機) ,  MUKAI SHINGO (北大 触媒科研) ,  UEHARA HIROMITSU (北大 触媒科研) ,  NITANI HIROAKI (高エネルギー加速器研究機構 物質構造科研) ,  NIWA YASUHIRO (高エネルギー加速器研究機構 物質構造科研) ,  ASAKURA KIYOTAKA (北大 触媒科研)
Material： 放射光  (日本放射光学会誌)
Volume： 30  Issue： 1  Page： 21-27  Publication year： Jan. 31, 2017 
JST Material Number： L0956A  ISSN： 0914-9287  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *XAFS ,  *gas sensor ,  in situ observation ,  *platinum catalyst ,  tin oxide ,  thin film ,  oxide ,  characteristic X-ray
Semi thesaurus term： tin dioxide ,  oxide thin film ,  X-ray fluorescence

JST classification (2)： Analytical instruments  (CC02020S) ,  Nobel metal catalysts  (CB06122I)

Reference (23)：

• J. Jaklevic, J. A. Kirby, M. P. Klein, A. S. Robertson, G. S. Brown and P. Eisenberger: Solid State Commun. 23, 679 (1977).
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• H. Oyanagi, A. Tsukada, M. Naito, N. L. Saini, M.-O. Lampert, D. Gutknecht, P. Dressler, S. Ogawa, K. Kasai, S. Mohamed and A. Fukano: J. Synchrotron Radiat. 13, 314 (2006).
• F. W. Lytle, R. B. Greegor, D. R. Sandstrom, E. C. Marques, J. Wong, C. L. Spiro, G. P. Huffman and F. E. Huggins: Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. A 226, 542 (1984).

Terms in the title (8)： 蛍光 ,  XAFS ,  セル ,  ガスセンサ ,  Pt ,  薄膜 ,  触媒 ,  その場観察