山中淳二

ヤマナカジュンジ | Junji Yamanaka

所属機関・部署：
職名：准教授

研究分野 (5件)：その他 , 構造材料、機能材料 , 金属材料物性 , 電気電子材料工学 , 結晶工学

研究キーワード (5件)：無機材料 , 相変態 , 透過電子顕微鏡 , 微細組織 , 半導体ヘテロ構造

競争的資金等の研究課題 (11件)：

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論文 (124件)：

Junji Yamanaka, Keisuke Arimoto, Takuma Ampo, Yasushi Takahashi. Elemental and Crystallographic Analysis of Trapiche Ruby using Micro X-ray Fluorescence Spectroscopy, X-ray Pole Figure Map, and Low Vacuum Type Field Emission Scanning Electron Microscopy. Microscopy and Microanalysys. 2023. 29. S1. 2011-2013
Junji Yamanaka, Joji Furuya, Kosuke O Hara, Keisuke Arimoto. Evaluation of Lattice-Spacing of SiGe/Si by NBD using Two Condenser-lens TEM, Experimental Study about the Effect of Convergence Angle. Microscopy and Microanalysys. 2023. 29. S1. 325-327
Taisuke Fujisawa, Atsushi Onogawa, Miki Horiuchi, Yuichi Sano, Chihiro Sakata, Junji Yamanaka, Kosuke O. Hara, Kentarou Sawano, Kiyokazu Nakagawa, Keisuke Arimoto. Influences of lattice strain and SiGe buffer layer thickness on electrical characteristics of strained Si/SiGe/Si(110) heterostructures. Materials Science in Semiconductor Processing. 2023. 161. 107476-107476
Keisuke Arimoto, Chihiro Sakata, Kosuke O. Hara, Junji Yamanaka. Crystalline Morphology of SiGe Films Grown on Si(110) Substrates. Journal of Electronic Materials. 2023. 52. 5121-5127
Kosuke O. Hara, Chiaya Yamamoto, Junji Yamanaka, Keisuke Arimoto. Semiconducting BaSi2 film synthesis by close-spaced evaporation benefiting from mechanical activation of source powder by ball milling. JJAP Conference Proceedings. 2023. 10. 011101-1-011101-5

MISC (29件)：

山中淳二. 新・電界放射型電子線マイクロアナライザー(FE-EPMA)の紹介. 山梨大学機器分析センター年報. 2023. 10. 14-16
山中淳二. 新・電界放射型走査電子顕微鏡(FE-SEM)の紹介. 山梨大学機器分析センター年報. 2023. 10. 11-13
原康祐, 山中淳二, 有元圭介. 新規太陽電池材料BaSi2の近接蒸着による成膜技術開発. 表面と真空. 2023. 2433-5835. 388-392
村上太陽, 有元圭介, 山中淳二, 原康祐, 山本千綾, 宇佐美徳隆, 星裕介, 有澤洋, 澤野憲太郎, 中川清和. イオン注入歪み緩和法を用いて形成したSi/Si_1-xC_x/Si(001)構造の結晶性評価. 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM). 2016. 77th. ROMBUNNO.15p-P11-8
Hiroshi Okamoto, Daichi Yamada, Hidefumi Narita, Yohei Otani, Chiaya Yamamoto, Junji Yamanaka, Tetsuya Sato, Yukio Fukuda. Effect of postdeposition treatments on the electrical properties of Al2O3/GeO2 gate stack grown on Ge substrate by radical-enhanced atomic layer deposition. Extended abstract of 9th International Workshop on New group IV Semiconductor Nanoelectronics and JSPS Core-to-Core Program Joint Seminar "Atomically Controlled Processing for Ultralarge Scale Integration". 2016. I-04-7-I-04-8

講演・口頭発表等 (116件)：

SiGe / Ge / Si (111)に発生するクラックの方位
(日本金属学会2024年春期(第174回)講演大会 2024)
Feasibility study for the evaluation of SiGe/Si (110) domain tilt using X-ray diffraction reciprocal space mapping and conventional HR-TEM method.
(The 20th International Microscopy Congress 2023)
Elemental and Crystallographic Analysis of Trapiche Ruby using Micro X-ray Fluorescence Spectroscopy, X-ray Pole Figure Map, and Low Vacuum Type Field Emission Scanning Electron Microscopy
(Microscopy & Microanalysis 2023 2023)
Evaluation of Lattice-Spacing of SiGe/Si by NBD using Two Condenser-lens TEM, Experimental Study about the Effect of Convergence Angle
(Microscopy & Microanalysis 2023 2023)
近接蒸着法により作製したCaSi2薄膜の結晶配向性
(2023年第70回応用物理学会春季学術講演会 2023)

学歴 (3件)：

学位 (2件)：

経歴 (3件)：

委員歴 (22件)：

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受賞 (3件)：

2013/07 - International Symposium on Sputtering and Plasma Processes (ISSP) 2013 ISSP 2013 Best Poster Award In situ formation of aluminum germanate interlayer for high-k/Ge metal-oxide-semiconductor structure by atomic layer deposition with trimethylaluminum and microwave-generated atomic oxygen
2013/05 - 日本顕微鏡学会日本顕微鏡学会第69回学術講演会優秀ポスター賞[材料系] 選択エッチングとFE-SEM を活用したFe-Al-Ni合金中B2 析出物の形態観察
2001/03 - 公益財団法人風戸研究奨励会風戸研究奨励金難黒鉛化性フラン樹脂炭素の表面黒鉛化

所属学会 (5件)：

Microscopy Society of America , 応用物理学会 , 日本顕微鏡学会 , 日本金属学会 , 日本セラミックス協会

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山中 淳二