研究者

J-GLOBAL ID：200901034709247204 更新日: 2020年08月27日

深野天

フカノタカシ | Fukano Takashi

所属機関・部署：
職名：研究員

研究キーワード (8件)：細胞 , 干渉計 , 顕微鏡 , 光学計測 , Cell , Intertefometry , Microscopy , Optical Measurement

競争的資金等の研究課題 (2件)：

2000 - 蛍光顕微鏡
2000 - Fluorescence Microscope

MISC (6件)：

Takashi Fukano, Ichirou Yamaguchi. Separation of measurement of the refractive index and the geometrical thickness by use of a wavelength-scanning interferometer with a confocal microscope. Applied Optics. 1999. 38. 19. 4065-4073
Takashi Fukano, Ichirou Yamaguchi. Separation of measurement of the refractive index and the geometrical thickness by use of a wavelength-scanning interferometer with a confocal microscope. Applied Optics. 1999. 38. 19. 4065-4073
Takashi Fukano, Ichirou Yamaguchi. Simultaneous measurement of thicknesses and refractive indices of multiple layers by a low-coherence confocal interference microscope. Optics Letters. 1996. 21. 23. 1942-1944
Takashi Fukano, Ichirou Yamaguchi. Simultaneous measurement of thicknesses and refractive indices of multiple layers by a low-coherence confocal interference microscope. Optics Letters. 1996. 21. 23. 1942-1944
Geometric Cross-Sectional Imaging by a Heterodyne Wavelength-Scanning Interferometric Confocal Microscope. Opt. Lett. (2000), 25(8), 548-550

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特許 (4件)：

試料の幾何学的厚さおよび屈折率測定装置およびその測定方法
積層構造体の層厚および屈折率の測定方法およびその測定装置
Method of measuring thickness and refractive indices of component layers of laminated structure and measuring apparatus for carrying out the same
Method of measuring thickness and refractive indices of component layers of laminated structure and measuring apparatus for carrying out the same

学位 (1件)：

工学博士 (埼玉大学)

経歴 (3件)：

2000 - :理化学研究所脳科学総合研究センター研究員
2000 - : Researcher, Brain Science Institute, The Institute
of Physical and Chemical Research(RIKEN)

所属学会 (4件)：

日本光学会 , The Japan Society of Laser Microscopy , The Japan Society of Applied Physics , Optical Society of Japan

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