研究者
J-GLOBAL ID:200901044420762408   更新日: 2020年08月30日

荒木 秀樹

アラキ ヒデキ | Araki Hideki
所属機関・部署:
MISC (39件):
特許 (2件):
  • Material defect evaluation apparatus using positron and its evaluation method (アメリカ)
  • Material defect evaluation apparatus using positron and its evaluation method (America)
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