高分解能二結晶型蛍光X線装置による酸化物薄膜の構造解析

文献

J-GLOBAL ID：200902017239815970 整理番号：92A0267088

Structural characterization of amorphous oxide films by high resolution X-ray fluorescence spectrometer.

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資料名：
巻： 30th ページ： 5 発行年： 1992年01月
JST資料番号： L1357A 資料種別：会議録 (C)
発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

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