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J-GLOBAL ID：200902110439745330   整理番号：99A0772937

Si(001)c(4×4)-C表面の光電子回折研究

Photoelectron diffraction study of the Si(001)c(4×4)-C surface.

著者 (9件)： KOSUGI R (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  ABUKAWA T (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  SHIMOMURA M (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  SUMITANI S (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  YEOM H-W (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  HANANO T (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  TONO K (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  SUZUKI S (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  TAKAKUWA Y (Tohoku Univ., Sendai, JPN)
資料名： Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena  (Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena)
巻： 101/103  ページ： 239-243  発行年： 1999年06月 
JST資料番号： D0266C  ISSN： 0368-2048  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (3件)： Si ,  光電子回折 ,  研究