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J-GLOBAL ID：200902131055150507   整理番号：01A0842269

薄層の亀裂ネットワークのフラクトグラフィ

Fractography of crack networks in thin layers.
著者 (4件)：
LAUSCHMANN H

LAUSCHMANN H について

(Czech Technical Univ., Prague, CZE)

Czech Technical Univ., Prague, CZE について

, 
WETZIG K

WETZIG K について

(Inst. Solid State and Materials Res., Dresden, DEU)

Inst. Solid State and Materials Res., Dresden, DEU について

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MENZEL S

MENZEL S について

(Inst. Solid State and Materials Res., Dresden, DEU)

Inst. Solid State and Materials Res., Dresden, DEU について

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GOEBEL T

GOEBEL T について

(Inst. Solid State and Materials Res., Dresden, DEU)

Inst. Solid State and Materials Res., Dresden, DEU について


資料名：
Materials Characterization  (Materials Characterization)

Materials Characterization について


巻： 46  号： 2/3  ページ： 105-111  発行年： 2001年02月 
JST資料番号： D0448C  ISSN： 1044-5803  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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材料表面の亀裂のランダムネットワークを検出し記述した。ハード...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*破面検査

破面検査 について

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準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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SEM【顕微鏡】

SEM【顕微鏡】 について

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分類 (2件)：
分類
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非破壊試験 
(HB02030F)

非破壊試験 について

,  レーザ照射・損傷 
(BK16040S)

レーザ照射・損傷 について

タイトルに関連する用語 (3件)：
タイトルに関連する用語
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薄層

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亀裂

亀裂 について

, 
フラクトグラフィ

フラクトグラフィ について


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