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J-GLOBAL ID：200902179076470857   整理番号：98A0026781

超高真空AFM用探針の酸化・汚染層の除去と力微分 距離曲線の解析

Removal of Oxide and Contamination Layers from Tips for UHV-AFM and Analysis Force Derivative-Distance Curves.

著者 (2件)： 新井豊子 (北陸先端科学技術大学院大) ,  富取正彦 (北陸先端科学技術大学院大)
資料名： 応用物理学会学術講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Annual Meeting. Japan Society of Applied Physics)
巻： 58th  号： 2  ページ： 518  発行年： 1997年10月 
JST資料番号： Y0055A  資料種別： 会議録 (C)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

タイトルに関連する用語 (9件)： 高真空 ,  AFM ,  探針 ,  酸化 ,  汚染 ,  力 ,  微分 ,  曲線 ,  解析