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J-GLOBAL ID：200902186534645080   整理番号：96A0792612

S終端GaAs(001)面の光電子回折による観測

X-ray Photoelectron Diffraction Study on Sulfer-Terminated GaAs(001).

著者 (3件)： 下田正彦 (金材技研) ,  塚本史郎 (金材技研) ,  小口信行 (金材技研)
資料名： 日本物理学会講演概要集(分科会)  (日本物理学会分科会講演予稿集)
巻： 1995  号： Autumn Pt 2  ページ： 521  発行年： 1995年09月 
JST資料番号： S0872B  資料種別： 会議録 (C)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

タイトルに関連する用語 (4件)： 終端 ,  GaAs ,  光電子回折 ,  観測