特許

J-GLOBAL ID：200903079177527590

磁場中での表面磁性計測方法および表面磁性計測装置

発明者： 倉橋 光紀 ,  山内 泰 ,  鈴木 拓
出願人/特許権者： 独立行政法人物質・材料研究機構
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-118872
公開番号（公開出願番号）：特開2005-300402
出願日： 2004年04月14日
公開日（公表日）： 2005年10月27日
要約：

【課題】 磁場中においても試料表面の磁性計測が可能な、磁場中での表面磁性計測方法および表面磁性計測装置を提供する。【解決手段】 磁場中においてスピン偏極させた準安定原子ビームを試料に照射し、試料電流を発生させ、試料に照射する準安定原子ビームのスピン偏極の向きを変えたときの試料電流の変化を測定することで試料表面の磁性計測を行う。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

磁場中においてスピン偏極させた準安定原子ビームを試料に照射し、試料電流を発生させ、試料に照射する準安定原子ビームのスピン偏極の向きを変えたときの試料電流の変化を測定することで試料表面の磁性計測を行うことを特徴とする磁場中での表面磁性計測方法。

IPC (3件)：

G01N27/72 ,  G01N23/22 ,  G01R33/12

FI (3件)：

G01N27/72 ,  G01N23/22 ,  G01R33/12 Z

Fターム (27件)：

2G001AA04 ,  2G001AA07 ,  2G001AA20 ,  2G001BA07 ,  2G001BA09 ,  2G001CA03 ,  2G001GA09 ,  2G001GA10 ,  2G001GA11 ,  2G001GA17 ,  2G001JA14 ,  2G001KA12 ,  2G001LA02 ,  2G001MA05 ,  2G001NA10 ,  2G001PA07 ,  2G001RA03 ,  2G001RA10 ,  2G001RA20 ,  2G017AD17 ,  2G017CA13 ,  2G053AA00 ,  2G053AB00 ,  2G053BA02 ,  2G053BB11 ,  2G053BC11 ,  2G053BC14

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 特開昭62-006148
  
• スピン偏極電子線源特性X線解析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-336326   出願人：株式会社アプコ

審査官引用 (2件)

• 特開昭62-006148
  
• スピン偏極電子線源特性X線解析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-336326   出願人：株式会社アプコ