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J-GLOBAL ID：200902147132743285   整理番号：96A0259112

RIKEN EBIS(REBIS)による多価イオンおよびビームイオン源(PHOBIS)の光イオン化の最初のテスト

First Test of Photoionization of Multi-charged Ions and PHOton Beam Ion Source (PHOBIS) with the RIKEN EBIS (REBIS).

著者 (7件)： KRAVIS S D (Kansas State Univ., KS, USA) ,  WATANABE N (Inst. Physical and Chemical Res. RIKEN, Saitama, JPN) ,  AWAYA Y (Inst. Physical and Chemical Res. RIKEN, Saitama, JPN) ,  KIMURA M (Osaka Univ., Toyonaka, JPN) ,  KOJIMA T (Inst. Physical and Chemical Res. RIKEN, Saitama, JPN) ,  OKUNO K (Tokyo Metropolitan Univ., Tokyo, JPN) ,  OURA M (Inst. Physical and Chemical Res. RIKEN, Saitama, JPN)
資料名： SPring-8 Annual Report 1994 and Review of the Project from the Start  (SPring-8 Annual Report 1994 and Review of the Project from the Start)
ページ： 216-217  発行年： 1994年 
JST資料番号： N19960464  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (5件)： 多価イオン ,  ビーム ,  イオン源 ,  光イオン化 ,  テスト