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J-GLOBAL ID：201002204478646027   整理番号：10A0266453

しきい光電子を用いた,e-Ne,Ar,Kr,Xe衝突の高分解能全断面積測定によるFeshbach共鳴の寿命決定

著者 (8件)： 豊島海士 (東京工大 大学院) ,  黒川学 (東京工大 大学院) ,  北島昌史 (東京工大 大学院) ,  小田切丈 (東京工大 大学院) ,  加藤英俊 (上智大 理工) ,  星野正光 (上智大 理工) ,  田中大 (上智大 理工) ,  伊藤健二 (KEK-PF)
資料名： 日本物理学会講演概要集  (日本物理学会年次大会講演概要集)
巻： 65  号： 1 第2分冊  ページ： 218  発行年： 2010年03月01日 
JST資料番号： S0671B  ISSN： 1342-8349  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 光電子 ,  閾値 ,  *原子-電子衝突 ,  全断面積 ,  計測 ,  高分解能 ,  ネオン ,  アルゴン ,  クリプトン ,  キセノン ,  *Feshbach共鳴 ,  寿命
準シソーラス用語： 閾エネルギー ,  測定

分類 (1件)： 電子との衝突・散乱  (BH04030F)

タイトルに関連する用語 (10件)： 光電子 ,  Ne ,  Ar ,  Kr ,  Xe ,  衝突 ,  高分解能 ,  全断面積 ,  Feshbach共鳴 ,  寿命