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J-GLOBAL ID：201302294302406020   整理番号：13A1693808

最新可視化技術で高分子を探る ここまできた電子線トモグラフィー-メゾスケール構造をいかにみるか?-

著者 (2件)： 陣内浩司 (JST-ERATO) ,  陣内浩司 (九大 先導物質化研)
資料名： 高分子  (Polymers)
巻： 62  号： 11  ページ： 666-668  発行年： 2013年11月01日 
JST資料番号： F0168A  ISSN： 0454-1138  CODEN： KOBUA3  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 近年,高分子の不均一構造を三次元的に可視化することで高分子材料の評価・解析に資する一連の顕微鏡群が注目を浴びている。本稿では電子線トモグラフィーを取り上げ,最近とくに発展の著しいメゾスケール(数百nmのスケール)構造の三次元可視化に焦点を当て,この手法の最近の進歩について紹介する。(著者抄録)

シソーラス用語： 可視化 ,  高分子 ,  *トモグラフィー ,  中規模 ,  電子回折 ,  画像診断
準シソーラス用語： メゾスケール ,  三次元画像法 ,  *電子線トモグラフィー

分類 (2件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  その他の粒子光学  (BD02080I)

タイトルに関連する用語 (4件)： 可視化技術 ,  高分子 ,  電子線トモグラフィー ,  メゾスケール