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J-GLOBAL ID:201702210103123269   整理番号:17A0557594

Au-Sn/Ni-xCu接合部の350°Cにおける界面組織変化とせん断挙動

Interfacial Microstructure Evolution and Shear Behavior of Au-Sn/Ni-xCu Joints at 350°C
著者 (4件):
資料名:
巻: 46  号:ページ: 2021-2029  発行年: 2017年04月 
JST資料番号: D0277B  ISSN: 0361-5235  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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350°CでAu-29Sn(at%)はんだとNi-xCu(x=20~80at%)合金基板の接合部の界面反応およびせん断挙動を調べた。基板中のCuの含有量は,はんだ接合部における微細構造の進展に大きな影響があった。α(Au)は初期の反応段階での主要反応生成物であった。Au-Sn/Si-20CuおよびAu-Sn/Ni-40Cu界面ではんだ付けが進行すると,Ni3Sn2層および規則化Au-Cu相の2層構造が生成した。Cuの含有量が40at%を超えると,規則化Au-CuおよびNi3Sn2層の周期構造が生成した。Au-Sn/Ni-40Cu接合部は,62MPaにも達する最も高いせん断強度を持ち,長いはんだ付け時間中も52MPa以上で維持できた。十分な厚さのα(Au)とAuCu III層がはんだ付け強度を提供するので,Au-Sn/Ni-40Cu接合は十分な信頼度を提供でき,α(Au)中の高いNi含有量と均一で連続的なNi3Sn2層が孔の形成を妨げた。
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分類 (3件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
接続部品  ,  ろう付  ,  金属の結晶構造 

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