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J-GLOBAL ID：201702217383254360   整理番号：17A0827011

ダークシリコン時代における計算現在の傾向と研究課題【Powered by NICT】

Computing in the Dark Silicon Era: Current Trends and Research Challenges

著者 (2件)： Shafique Muhammad (Vienna University of Technology (TU Wien), Vienna, Austria) ,  Garg Siddharth (New York University)
資料名： IEEE Design & Test  (IEEE Design & Test)
巻： 34  号： 2  ページ： 8-23  発行年： 2017年 
JST資料番号： B0007C  ISSN： 2168-2356  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 電力密度は多くのオンチップ設計のための主要な制約となっている。ダークシリコン特集への導入として,最新動向と初心者と専門家のための貴重な情報を持っている話題調査を提供する。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *エネルギー密度
準シソーラス用語： オンチップ ,  電力密度 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： CAD,CAM  (JE10000A) ,  計算機システム開発  (JD02010R) ,  ディジタル計算機ハードウェア一般  (JC04010C)

タイトルに関連する用語 (4件)： シリコン ,  計算 ,  傾向 ,  研究