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J-GLOBAL ID：201702232902892036   整理番号：17A0548930

PLD法によるV₂O₅-Bi₂O₃-WO₃系ガラス薄膜の作製と光学・電気特性評価

著者 (6件)： 藤元勇希 (東京工大) ,  高野詩織 (東京工大) ,  金子智 (神奈川県産技セ) ,  金子智 (東京工大) ,  松田晃史 (東京工大) ,  吉本護 (東京工大)
資料名： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 64th  ページ： ROMBUNNO.15p-311-5  発行年： 2017年03月01日 
JST資料番号： Y0054B  ISSN： 2436-7613  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： パルスレーザ蒸着 ,  *酸化ビスマス ,  *酸化タングステン ,  *酸化バナジウム ,  *ガラス ,  *誘電体薄膜 ,  X線回折 ,  顕微鏡観察 ,  焼結体 ,  原子間力顕微鏡法 ,  物
準シソーラス用語： 原子間力顕微鏡観察

分類 (1件)： 酸化物薄膜  (BK14050P)

タイトルに関連する用語 (8件)： PLD法 ,  Bi2O3 ,  ガラス ,  薄膜 ,  作製 ,  光学 ,  電気特性 ,  評価