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J-GLOBAL ID：201702235765867723   整理番号：17A0244299

Ir₄(CO)₁₂金属クラスター錯体薄膜の高分解能TOF-SIMSとフラグメントイオンの生成過程

著者 (6件)： 中永泰介 (産総研 計測フロンティア研究部門) ,  永井秀和 (産総研 計測フロンティア研究部門) ,  藤原幸雄 (産総研 計測フロンティア研究部門) ,  齋藤直昭 (産総研 計測フロンティア研究部門) ,  藤本俊幸 (産総研 計測フロンティア研究部門) ,  野中秀彦 (産総研 計測フロンティア研究部門)
資料名： 分子科学討論会講演プログラム&要旨(Web)  (Program & Abstract. Annual Meeting of Japan Society for Molecular Science (Web))
巻： 2nd  ページ： ROMBUNNO.2P037 (WEB ONLY)  発行年： 2008年 
JST資料番号： U0350A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *イリジウム錯体 ,  一酸化炭素 ,  クラスタ ,  錯体 ,  薄膜 ,  *飛行時間法 ,  二次イオン ,  質量分析 ,  *フラグメント

分類 (1件)： 白金族元素の錯体  (CE01100E)

タイトルに関連する用語 (7件)： CO ,  クラスター錯体 ,  薄膜 ,  高分解能 ,  TOF-SIMS ,  フラグメントイオン ,  過程