文献

J-GLOBAL ID：201702239926672517   整理番号：17A0416759

ヌル大会論理のためのセルフタイムド自動テストパターン生成【Powered by NICT】

Self-timed automatic test pattern generation for null convention logic

著者 (4件)： Nemati Nastaran (University of New South Wales, Australia) ,  Reed Mark C. (University of New South Wales, Australia) ,  Parameswaran Sri (University of New South Wales, Australia) ,  Fant Karl (Theseus Logic, California, USA)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： MWSCAS  ページ： 1-4  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Nullコンベンション論理(NCL)のための自動テストパターン生成(ATPG)を提案した。NCLは,クロック信号の欠如と多数状態保持元素の存在による試験と試験容易性のアルゴリズムへの新しい挑戦を導入するロバストな非同期パラダイムである。本研究の主な特徴は,NCL回路上の全ての単一縮退故障のためのクロックレス,自己タイミングATPG,ゲート内部フィードバック(GIF)を含んでいる。GIFの故障の検出は,添加試験ハードウェアで行われていない。筆者の知る限りでは,これはNCLゲートのGIFのパス遅延故障に対する被覆率と面積オーバヘッドでクロックレス,自己タイミングATPGを検討した最初の研究である。提案したテスト生成アルゴリズムは平均96.2%故障検出率を持ついくつかの実物大NCL回路に対して評価した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： ロバスト性 ,  *縮退故障 ,  被覆率 ,  同期信号 ,  フィードバック ,  アルゴリズム ,  ハードウェア ,  故障検出
準シソーラス用語： テスト生成 ,  遅延故障 ,  ATPG ,  *テストパターン生成 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  論理回路  (NC05070B)

タイトルに関連する用語 (3件)： 論理 ,  自動テスト ,  パターン生成