Jeong Jae-Seong について
Electronic Convergence Material & Device Research Center, Korea Electronics Technology Institute (KETI), 25 Saenari-ro, Bundang-gu, Seongnam, Gyeonggi-Do, Republic of Korea について
Jeong Jae-Seong について
Department of Electrical and Computer Engineering, University of Seoul, Dongdaemun-gu, Seoul, Republic of Korea について
Kim Yong-Huyn について
Advanced process development group, Jusung Engineering Co. Ltd., Gwang-ju, Gyeonggi-Do, Republic of Korea について
Park Chang-Kyun について
Advanced process development group, Jusung Engineering Co. Ltd., Gwang-ju, Gyeonggi-Do, Republic of Korea について
Kim Heon-Do について
Advanced process development group, Jusung Engineering Co. Ltd., Gwang-ju, Gyeonggi-Do, Republic of Korea について
Choi Joongho について
Department of Electrical and Computer Engineering, University of Seoul, Dongdaemun-gu, Seoul, Republic of Korea について
Microelectronics Reliability について
MOCVD について
高温 について
湿潤 について
結晶粒界 について
相対湿度 について
微結晶 について
プラズマ処理 について
水分 について
酸化亜鉛 について
表面反応 について
X線光電子分光法 について
Hall移動度 について
太陽電池 について
湿度 について
透明導電性酸化物 について
a-Si:H/μc-Si:H太陽電池 について
ZnO:B透明導電膜 について
H/Ar治療 について
機構 について
湿潤熱 について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
トランジスタ について
固体デバイス材料 について
ZnO について
Ar について
Si について
透明導電性酸化物 について
湿気 について
熱ストレス について
太陽電池モジュール について