資料
J-GLOBAL ID：200909064441775801
JST資料番号 (フル)：C0530ABN
JST資料番号：C0530A
Microelectronics Reliability
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C0530A
ISSN (1件)：
0026-2714
資料内容種別：一般記事, メタデータのみ, 毎月
刊行頻度： 毎月
発行国：イギリス(GBR)
本文使用言語 (1件)：
英語(EN)
JST資料分類 (2件)：
電子工学 (NC)
, 生産工学 (KB)
出版団体名：
Elsevier
出版地：Kidlington
会議 (65件)：
- JEDEC Reliability of Compound Semiconductors Workshop, 27th, Boston, Mass., 20120423 -
- European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, 23rd, Cagliari, 20121001 - 20121005
- International Conference on Materials for Advanced Technologies, Singapore, 20110626 - 20110701
- International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-physics Simulation and Experiments in Micro-Electronics and Micro-Systems, 12th, Linz, 20110418 - 20110420
- International Seminar on Power Semiconductors, 10th, Prague, 20100901 - 20100903
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前資料名 (1件)：
- Electronics Reliability & Microminiaturization
JST所蔵 (0件)
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