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J-GLOBAL ID：201702247135645053   整理番号：17A0362529

高出力InGaAs/AlGaAsレーザダイオードの破滅的光損傷【Powered by NICT】

Catastrophic optical damage of high power InGaAs/AlGaAs laser diodes

著者 (6件)： Souto J. (GdS Optronlab, Ed. i+d, Paseo de Belen, 1, Universidad de Valladolid, 47011 Valladolid, Spain) ,  Pura J.L. (GdS Optronlab, Ed. i+d, Paseo de Belen, 1, Universidad de Valladolid, 47011 Valladolid, Spain) ,  Torres A. (GdS Optronlab, Ed. i+d, Paseo de Belen, 1, Universidad de Valladolid, 47011 Valladolid, Spain) ,  Jimenez J. (GdS Optronlab, Ed. i+d, Paseo de Belen, 1, Universidad de Valladolid, 47011 Valladolid, Spain) ,  Bettiati M. (3SP Technologies, Route de Villejust, 91625 Nozay, France) ,  Laruelle F.J. (3SP Technologies, Route de Villejust, 91625 Nozay, France)
資料名： Microelectronics Reliability  (Microelectronics Reliability)
巻： 64  ページ： 627-630  発行年： 2016年 
JST資料番号： C0530A  ISSN： 0026-2714  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高出力レーザダイオードのカタストロフィック光劣化(COD)によって形成された欠陥がカソードルミネセンス(CL)を用いて調べた。損傷の異なった水準に対応する不連続暗線はリッジに沿って観察された。有限要素法は,レーザ構造の熱的および機械的特性を明確に考慮したダイオードの劣化に対する物理モデルを解くために適用した。このモデルによれば,CODは転位の生成をもたらす熱応力を生じさせることを局所温度上昇によって引き起こされる。損傷は最初にQWに局在し,導波路層に伝搬するときのレーザは,その寿命を終了する。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 光劣化 ,  高出力レーザ ,  *レーザ ,  *半導体レーザ ,  熱応力 ,  陰極線ルミネセンス ,  昇温 ,  不連続性 ,  *ヒ化ガリウムインジウム ,  *ダイオード ,  導波路 ,  有限要素法 ,  *ヒ化ガリウムアルミニウム
準シソーラス用語： 物理モデル ,  *高出力 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 陰極線ルミネセンス(CL) ,  高出力レーザダイオード ,  暗黒線欠陥(DLDs) ,  カタストロフィックな劣化 ,  熱機械的モデリング

分類 (2件)： 半導体レーザ  (BD04070L) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (5件)： 高出力 ,  InGaAs ,  AlGaAsレーザ ,  ダイオード ,  光損傷