Khan Saqib Ali について
RSC Lab, Electronics and Communication Engineering Department, Hanyang University, Republic of Korea について
Lim Chulseung について
RSC Lab, Electronics and Communication Engineering Department, Hanyang University, Republic of Korea について
Bak Geunyong について
RSC Lab, Electronics and Communication Engineering Department, Hanyang University, Republic of Korea について
Baeg Sanghyeon について
RSC Lab, Electronics and Communication Engineering Department, Hanyang University, Republic of Korea について
Lee Soonyoung について
Technology Quality & Reliability, Samsung Electronics, Yongin City, Gyeonggi-do, Republic of Korea について
Microelectronics Reliability について
α線照射 について
切り屑 について
SRAM について
飛程 について
α粒子 について
ワイヤボンディング について
能動回路 について
断面積 について
フリップチップ法 について
輸送コード について
FinFET について
シリコンウエハ について
ダウンスケーリング について
SEE【事象】 について
高エネルギー について
シングルイベント効果(SEE) について
アルファ粒子 について
ソフトエラー について
GEANT4 について
14nm FinFET について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
プリント回路 について
フリップチップ法 について
パッケージ について
SRAM について
アルファ粒子 について
誘起 について
SEU について
断面積 について
代替 について
高エネルギー について