文献

J-GLOBAL ID：201702257995719863   整理番号：17A0093067

Eu(Rh_1-xIr_x)₂Si₂の温度誘起原子価遷移に関する硬X線光電子分光法の研究

Hard X-ray Photoemission Study on Temperature-Induced Valence Transition of Eu(Rh_1-xIr_x)₂Si₂

著者 (19件)： MATSUMOTO T. (Osaka Prefecture Univ., Sakai, JPN) ,  ICHIKI K. (Osaka Prefecture Univ., Sakai, JPN) ,  ANZAI H. (Osaka Prefecture Univ., Sakai, JPN) ,  ABE K. (Osaka Prefecture Univ., Sakai, JPN) ,  ISHIHARA S. (Osaka Prefecture Univ., Sakai, JPN) ,  TAKESHITA R. (Osaka Prefecture Univ., Sakai, JPN) ,  SATO H. (Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima, JPN) ,  ROUSULI A. (Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima, JPN) ,  UEDA S. (National Inst. Materials Sci., Hyogo, JPN) ,  TAGUCHI Y. (Osaka Prefecture Univ., Sakai, JPN) ,  SHIMADA K. (Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima, JPN) ,  NAMATAME H. (Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima, JPN) ,  TANIGUCHI M. (Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima, JPN) ,  FUJIMOTO T. (Kyushu Univ., Fukuoka, JPN) ,  KISHABA E. (Kyushu Univ., Fukuoka, JPN) ,  MITSUDA A. (Kyushu Univ., Fukuoka, JPN) ,  WADA H. (Kyushu Univ., Fukuoka, JPN) ,  MIMURA K. (Osaka Prefecture Univ., Sakai, JPN) ,  MIMURA K. (Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima, JPN)
資料名： Proceedings of the Hiroshima International Symposium on Synchrotron Radiation  (Proceedings of the Hiroshima International Symposium on Synchrotron Radiation)
巻： 20th  ページ： 155-156  発行年： 2016年 
JST資料番号： L6805A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *X線光電子分光法 ,  硬X線 ,  *相転移 ,  温度依存性 ,  *ユウロピウム化合物 ,  ロジウム化合物 ,  ケイ化物 ,  イリジウム化合物 ,  電子構造
準シソーラス用語： *原子価遷移 ,  *硬X線光電子分光

分類 (2件)： 固相転移  (BL04020G) ,  電子分光スペクトル  (BM09060K)

タイトルに関連する用語 (5件)： Eu ,  誘起 ,  原子価遷移 ,  硬X線光電子分光 ,  研究