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J-GLOBAL ID：201702259988506345   整理番号：17A0362467

VLSIの時間-周波数スキャンのための自動プロセス【Powered by NICT】

Automatic process for time-frequency scan of VLSI

著者 (8件)： Boscaro A. (Le2i, UMR CNRS 6306, Univ. Bourgogne Franche-Comte, 9 Avenue Alain Savary, 21000 Dijon, France) ,  Boscaro A. (Centre National d’Etudes Spatiales (CNES), 18 Avenue Edouard Belin, 31401 Toulouse, France) ,  Jacquir S. (Le2i, UMR CNRS 6306, Univ. Bourgogne Franche-Comte, 9 Avenue Alain Savary, 21000 Dijon, France) ,  Melendez K. (Centre National d’Etudes Spatiales (CNES), 18 Avenue Edouard Belin, 31401 Toulouse, France) ,  Sanchez K. (Centre National d’Etudes Spatiales (CNES), 18 Avenue Edouard Belin, 31401 Toulouse, France) ,  Perdu P. (Centre National d’Etudes Spatiales (CNES), 18 Avenue Edouard Belin, 31401 Toulouse, France) ,  Perdu P. (Temasek Laboratories, Nanyang Technological University, 50 Nanyang Drive, Singapore) ,  Binczak S. (Le2i, UMR CNRS 6306, Univ. Bourgogne Franche-Comte, 9 Avenue Alain Savary, 21000 Dijon, France)
資料名： Microelectronics Reliability  (Microelectronics Reliability)
巻： 64  ページ： 299-305  発行年： 2016年 
JST資料番号： C0530A  ISSN： 0026-2714  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 電気光学技術(EOP:電気光学プロービングとEOFM:電気光学周波数マッピング)は欠陥局在化とデバッグ設計VLSIの有効背面非接触法である。画像モード(EOFM)は,各スキャンでただ一つの周波数を与える。この場合,周波数マッピングは長くて困難な作業である。さらに,時間情報はEOFMモードには含まれていない。点EOPによる点による地図の構築通常長すぎるので,それは,関心のある領域への関心のすべての周波数を抽出することであるとしては使用できない。この限界を克服するために,ウェーブレット法と自己相関を用いたEOPモードを用いた自動プロセスを開発した。時間と周波数情報はただ一つの獲得と計算した。挑戦を強調し,この技術の応用境界を定義する。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： *走査 ,  デバッギング ,  波束 ,  *超LSI ,  自己相関 ,  画像 ,  *周波数
準シソーラス用語： 時間情報 ,  非接触 ,  局在化 ,  プロービング ,  光技術 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (3件)： VLSI ,  スキャン ,  プロセス