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J-GLOBAL ID：201702269261205445   整理番号：17A0316960

LEDパッケージの寿命特性の予測【Powered by NICT】

Lumen maintenance predictions for LED packages

著者 (7件)： van Driel W.D. (Philips Lighting, High Tech Campus, Eindhoven, The Netherlands) ,  van Driel W.D. (Delft University of Technology, DIMES-ECTM, The Netherlands) ,  Schuld M. (CQM, Eindhoven, The Netherlands) ,  Jacobs B. (Philips Lighting, High Tech Campus, Eindhoven, The Netherlands) ,  Commissaris F. (Philips Lighting, High Tech Campus, Eindhoven, The Netherlands) ,  van der Eyden J. (Philips Lighting, High Tech Campus, Eindhoven, The Netherlands) ,  Hamon B. (Philips Lighting, Rue des Brotteaux, 01708 Miribel, France)
資料名： Microelectronics Reliability  (Microelectronics Reliability)
巻： 62  ページ： 39-44  発行年： 2016年 
JST資料番号： C0530A  ISSN： 0026-2714  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 光束維持の観点からLEDベース製品のための市販の主張はLM8データを用いたTM21外挿に基づいている。TM21平均LED劣化の挙動のみに頼るのでこれを行う代わりに,すべての個々のLEDの劣化を考慮したリスクであることを示した。製品レベルに及ぼす光束維持にTM21外挿から適切な段階を行うために,より大きな統計的解析を提案した。いくつかの主張は保証の10年に基づいているとして必要であり,いくつかのサービス入札は,操作の20~25年の期間を提供する。本論文では,光束維持外挿を行うために現在利用可能なアプローチをレビューした。より深い統計的アプローチを用いたLM,80データを解析し,推定するための新しい方法を提案した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： *統計解析

著者キーワード (4件)： Degradation ,  LED ,  寿命 ,  内腔崩壊

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  発光素子  (NC03082G)

タイトルに関連する用語 (4件)： LED ,  パッケージ ,  寿命 ,  予測