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J-GLOBAL ID：201002263267105530   整理番号：10A0967679

RTNを考慮した回路特性ばらつき解析方法の検討

著者 (8件)： 増田弘生 (ルネサスエレクトロニクス) ,  佐方剛 (富士通セミコンダクター) ,  佐藤高史 (京大) ,  橋本昌宜 (大阪大) ,  古川且洋 (ジーダット) ,  田中正和 (パナソニック) ,  山中俊輝 (リコー) ,  金本俊幾 (ルネサスエレクトロニクス)
資料名： 情報処理学会シンポジウム論文集  (情報処理学会ワークショップ論文集)
巻： 2010  号： 7  ページ： 209-214  発行年： 2010年08月26日 
JST資料番号： Y0978B  ISSN： 1344-0640  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 本論文では,RTNを取り巻く確率・統計的側面を詳細に分析することにより,RTNが回路特性に与える影響を検討する。RTNのモンテカルロ解析アルゴリズムを新たに提案し,以下の結論を示す。RTNはチップ内の欠陥歩留まりと同等の現象としてとらえられること,すなわちRTNが検出の難しい内在欠陥の問題となる可能性があり,RTNバーイン,欠陥素子のスクリーニングの重要性を指摘した。(著者抄録)

シソーラス用語： *雑音 ,  *確率モデル ,  モンテカルロ法 ,  *回路設計 ,  CAD【計算機】 ,  計算機アルゴリズム ,  *半導体チップ ,  歩留り ,  欠陥 ,  スクリーニング
準シソーラス用語： *ランダムテレグラフノイズ

分類 (4件)： 雑音一般  (ND04010J) ,  システム・制御理論一般  (IA02010H) ,  CAD,CAM  (JE10000A) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (3件)： 回路特性 ,  ばらつき ,  解析方法