特許
J-GLOBAL ID:201103020265333685

光ファイバー計測モジュール

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 小谷 悦司 ,  伊藤 孝夫 ,  樋口 次郎 ,  櫻井 智
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-554942
特許番号:特許第4314197号
出願日: 2002年11月27日
請求項(抜粋):
【請求項1】 構造物に敷設され、構造物の歪もしくは温度の少なくとも一方の物理量を計測するための光ファイバー計測モジュールであって、光ファイバコアとクラッドと被覆層とを有し、上記光ファイバコアに不連続ポンプ光を入射して上記光ファイバコアの歪または温度に由来する散乱光を検出するための光ファイバー芯線と、この光ファイバー芯線を保持すると共に係合部を底面側に有する基材と、この基材と別に、構造物に取り付けられると共に上記係合部に係合する係止部を上面側に有する取り合い部材とを備え、上記基材の係合部と上記取り合い部材の係止部とを互いに係止させて、上記光ファイバー芯線を上記構造物に取り付けるものであって、上記基材の係合部と上記取り合い部材の係止部とがジッパー構造を有し、上記取り合い部材に設けられた係止部のピッチと、上記基材に設けられた係合部のピッチとを異なる間隔にして、上記取り合い部材に係止された基材に伸びまたは縮みに係る歪を与えることにより、計測値の零点を補正するための光ファイバー芯線の初期歪を設定することが可能なものであることを特徴とする光ファイバー計測モジュール。
IPC (5件):
G01B 11/16 ( 200 6.01) ,  G01D 5/353 ( 200 6.01) ,  G01K 11/12 ( 200 6.01) ,  G01L 1/24 ( 200 6.01) ,  G02B 6/00 ( 200 6.01)
FI (5件):
G01B 11/16 Z ,  G01D 5/26 D ,  G01K 11/12 F ,  G01L 1/24 A ,  G02B 6/00 B
引用特許:
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (7件)
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