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J-GLOBAL ID：201202248517171157   整理番号：12A0346127

CMOSドライバ回路遅延のNBTI劣化ばらつき特性解析

著者 (10件)： 佐方剛 (富士通セミコンダクター) ,  成木保文 (メンター・グラフィクス・ジャパン) ,  奥村隆昌 (STARC) ,  金本俊幾 (ルネサスエレクトロニクス) ,  増田弘生 (ルネサスエレクトロニクス) ,  佐藤高史 (京大) ,  橋本昌宜 (大阪大) ,  古川且洋 (ジーダット) ,  田中正和 (パナソニック) ,  山中俊輝 (リコー)
資料名： 情報処理学会シンポジウム論文集  (情報処理学会ワークショップ論文集)
巻： 2011  号： 5  ページ： 195-200  発行年： 2011年08月24日 
JST資料番号： Y0978B  ISSN： 1344-0640  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 車載用SOCの信頼性設計では1FITレベルの品質保証が要求される。その品質保証に影響しうる現象がNBTI特性劣化とその分布形状である。本論文では,そのNBTI劣化特性とそのばらつき分布を正確に推定し,22nmCMOSドライバ回路の遅延特性分布のワーストケース特性に与える影響を解析する。NBTIのしきい値電圧劣化の分布形状が対数正規分布になることを考慮し,その影響が1FITレベルの遅延故障率にどのように影響するか解析した。この解析を実用的な時間で実施するために,モンテカルロ解析の高速化手法を導入した。CMOSの微細化に対するNBTI劣化特性分布,回路特性ばらつき分布,回路故障率を正確に予測する手法を提供した。(著者抄録)

シソーラス用語： *CAD【計算機】 ,  *MOSFET ,  信頼性 ,  熱安定性 ,  分散【variance】 ,  *半導体集積回路 ,  電圧 ,  品質保証 ,  故障率 ,  予測技法
準シソーラス用語： *NBTI ,  ばらつき ,  *CMOS集積回路 ,  閾値電圧

分類 (3件)： CAD,CAM  (JE10000A) ,  トランジスタ  (NC03070N) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (6件)： CMOS ,  ドライバ回路 ,  遅延 ,  NBTI ,  ばらつき ,  特性解析