文献
J-GLOBAL ID:201302234519663916   整理番号:13A0853265

サファイアm面基板上ZnTe薄膜の成長とバッファ層による影響の評価

著者 (5件):
資料名:
巻: 60th  ページ: ROMBUNNO.27P-G19-5  発行年: 2013年03月11日 
JST資料番号: Y0054B  ISSN: 2758-4704  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。

分類 (1件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
半導体薄膜 

前のページに戻る