特許
J-GLOBAL ID：201303097025388439

誘電泳動による微粒子の状態の測定方法

発明者：
安達 稔

安達 稔 について

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久保井 亮一

久保井 亮一 について

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小寺 富士

小寺 富士 について

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島内 寿徳

島内 寿徳 について


出願人/特許権者：
クラスターテクノロジー株式会社

クラスターテクノロジー株式会社 について

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国立大学法人大阪大学

国立大学法人大阪大学 について


代理人 (1件)： 進藤 卓也
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-505083
特許番号：特許第5186675号
出願日： 2007年03月01日
請求項（抜粋）：
【請求項1】微粒子の状態を測定する方法であって、 微粒子を含む試料を誘電泳動液中に導入し、該微粒子の位置R0を測定する工程; 該誘電泳動液中の該微粒子に対して不均一電界を発生させ、t秒後の該微粒子の位置Rtを測定する工程; 該得られた微粒子の位置R0およびRtから、誘電泳動移動度を算出する工程;および 該状態と該算出された誘電泳動移動度とを相関させる工程; を含み、 該状態が、表面の官能基の構造、表面の特異性、表面の電位、大きさ、形状、活性、内部のイオン量分布、内部のイオン成分、内部の組成、および内部の構造からなる群より選択される少なくとも1つであり、 該不均一電界が多重極電極により発生され、該多重極電極が、対称に配置されており、 該誘電泳動液が、垂直方向に配置された内径10μmから500μmのキャピラリー流路内にあり、そして 該電極が、0.1mmから2mmの長さであって、該キャピラリー流路に沿って配置される、方法。
IPC (3件)：
G01N 27/00 ( 200 6.01) ,  G01N 15/00 ( 200 6.01) ,  C12Q 1/02 ( 200 6.01)
FI (3件)：
G01N 27/00 Z ,  G01N 15/00 B ,  C12Q 1/02
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)
引用文献：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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