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J-GLOBAL ID：201402263132062270   整理番号：14A1197879

コロイドプローブAFMによる改質シリカ表面間の疎液性引力の直接測定

著者 (5件)： 石田尚之 (岡山大 大学院) ,  曽我友平 (岡山大 大学院) ,  池田亨平 (岡山大 大学院) ,  今中洋行 (岡山大 大学院) ,  今村維克 (岡山大 大学院)
資料名： 化学工学会秋季大会研究発表講演要旨集(CD-ROM)  (化学工学会秋季大会(CD-ROM))
巻： 46th  ページ： ROMBUNNO.A206  発行年： 2014年 
JST資料番号： L0827B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： プローブ ,  コロイド ,  原子間相互作用 ,  原子間力顕微鏡 ,  表面改質 ,  表面力 ,  疎水性 ,  *引力 ,  計測 ,  *二酸化ケイ素 ,  直接測定
準シソーラス用語： *シリカ ,  *AFM【顕微鏡】 ,  *コロイドプローブ ,  *表面間力

分類 (2件)： 原子間相互作用  (BH04020U) ,  コロイド化学一般  (CB11010C)

タイトルに関連する用語 (6件)： コロイドプローブ ,  AFM ,  改質 ,  シリカ ,  引力 ,  直接測定