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J-GLOBAL ID：201602206421115472   整理番号：16A0021845

小型発振回路センサーによるひずみ計測

著者 (3件)： 宇都宮登雄 (芝浦工大) ,  神田淳 (JAXA) ,  齋藤敦史 (芝浦工大)
資料名： 日本機械学会関東支部総会・講演会講演論文集(CD-ROM)
巻： 21st  ページ： ROMBUNNO.10702  発行年： 2015年03月19日 
JST資料番号： L3954B  ISSN： 2424-2691  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ひずみ計測は,実験室レベルでの材料試験,材料・構造の疲労試験や,航空機の機体開発試験など様々な場面で行われている。著者らは,ひずみゲージとCMOSインバータ発振回路を組み合わせた計測システムを提案し,小型発振回路センサーを試作した。本研究では,静的引張り試験を実施し,この小型発振回路センサーによるひずみ計測を試みた。ひずみ計測用ゲージに加えてダミーゲージを用い,両者の出力差を取ることによって,回路構成素子の温度変化や外部ノイズによる影響を除去でき,精度よい計測が可能となることがわかった。(著者抄録)

シソーラス用語： *発振器 ,  *歪測定 ,  歪計 ,  論理回路 ,  CMOS構造 ,  *インバータ ,  引張試験
準シソーラス用語： CMOSインバータ ,  発振回路 ,  歪ゲージ ,  歪計測

分類 (1件)： 弾性力学一般  (HC02010M)

タイトルに関連する用語 (3件)： 発振回路 ,  センサー ,  ひずみ計測