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J-GLOBAL ID：201602210604939277   整理番号：16A0176051

直線偏光のX線と紫外光の励起源を用いた光電子顕微鏡による有機半導体の分子配向解析

著者 (4件)： 関口哲弘 (日本原子力研究開発機構) ,  本田充紀 (日本原子力研究開発機構) ,  平尾法恵 (日本原子力研究開発機構) ,  池浦広美 (産業技術総合研)
資料名： 日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム予稿集  (日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム)
巻： 29th  ページ： 82  発行年： 2016年01月09日 
JST資料番号： L1310A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 有機半導体 ,  *分子配向 ,  電子顕微鏡観察 ,  直線偏光 ,  *ポリヘキシルチオフェン ,  偏光角
準シソーラス用語： *光電子顕微鏡法

分類 (1件)： 高分子固体の構造と形態学  (CG02022M)

タイトルに関連する用語 (8件)： 直線偏光 ,  X線 ,  紫外光 ,  励起 ,  光電子顕微鏡 ,  有機半導体 ,  分子配向 ,  解析